詳細介紹
一、產品介紹
該系統基于深度優(yōu)化后的隨機散斑跟蹤和數字圖像相關(Digital Image Correlation, DIC)算法,具備二維全場變形測量(如應變場、位移場、速度場等)、實時多點變形跟蹤兩大功能。
配置于高溫力學、低溫力學試驗系統上,可進行高溫或低溫環(huán)境下的力學性能試驗中材料變形測試。
配置于高溫力學、低溫力學試驗系統上,可進行高溫或低溫環(huán)境下的力學性能試驗中材料變形測試。
該系統由工業(yè)相機、鏡頭、電源、標定板、三腳架及云臺、LED照明光源等組成。
相機選用德國Allied Visino Technologies 公司生產的1394接口照相機,鏡頭采用日本Mytron公司及日本Computar公司生產的低畸變鏡頭。
軟件包含支持32位和64位操作系統,分為兩點測量、二維變形場測量和實時兩點測量三部分,功能區(qū)包含8個子菜單對應的35和小菜單,7組26個快捷按鈕。包含前處理窗口、后處理窗口、兩點測量曲線窗口、ROI(感興趣區(qū)域)直方圖窗口等。
二、主要技術參數
位移精度:
理論圖像的像素精度:1/200像素
應變精度:
室溫下按標距長度1000像素計算,工程應變的理論精度為10微應變。
應變測量范圍:0.01%到100%
系統分辨率:≤1μm
三、操作界面實例展示
二維場測量主界面實例
兩點測量及實時測量主界面
關鍵詞:
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